
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類(lèi)TECHNICAL ARTICLES
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日本NCC高照度制造設(shè)備清潔燈檢查裝置HID燈 Triton “Triton”盡管尺寸方便,但具有與 HID 燈相同的性能,并 使用強(qiáng)大的直光“可視化”灰塵、異物和劃痕!
2025-05-08
經(jīng)銷(xiāo)商
468
日本進(jìn)口NCC外觀檢查清潔燈半導(dǎo)體制造用 Quantum 用小但高度直射的光“可視化”灰塵、異物和劃痕! 檢查燈“Quantum”,現(xiàn)場(chǎng)管理人員的必需品
2025-05-08
經(jīng)銷(xiāo)商
390
日本NCC清潔檢查照明燈噴漆、印刷用高照度 Quantum 用小但高度直射的光“可視化”灰塵、異物和劃痕! 檢查燈“Quantum”,現(xiàn)場(chǎng)管理人員的必需品
2025-05-08
經(jīng)銷(xiāo)商
434
日本NCC小型清潔檢查燈可視化灰塵、劃痕等 Quantum 用小但高度直射的光“可視化”灰塵、異物和劃痕! 檢查燈“Quantum”,現(xiàn)場(chǎng)管理人員的必需品
2025-05-08
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542
日本NCC可視化目視清潔檢查燈設(shè)備檢測(cè)灰塵 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場(chǎng)所的清潔檢查燈,旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。
2025-05-08
經(jīng)銷(xiāo)商
1714
日本NCC手持式目視檢查燈檢測(cè)異物漂浮狀態(tài) ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場(chǎng)所的清潔檢查燈,旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。
2025-05-07
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475
日本進(jìn)口NCC顆粒/灰塵高精度目視清潔檢查燈 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場(chǎng)所的清潔檢查燈,旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。
2025-05-07
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1188
Yamada高照度檢查燈鹵素光源設(shè)備山田光學(xué) YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測(cè)各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。
2025-05-06
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977
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